金相顯微鏡跟掃描電鏡的區別 日期：2019.05.24
由於此類樣品一般表麵是凹凸不平的，所以不適合用普通金相顯微鏡觀看，以前這部分樣品一般也是電鏡的工作，觀察一般5000x以下，LEXT拍攝此類樣品的照片感覺也都很不錯的，完全可以代替電鏡的工作。
三、非金屬材料
玻璃鋼
碳碳複合材料
纖維
MSP納米複合材料
天然石磨顆粒
釹鐵硼顆粒
陶瓷斷口1
陶瓷斷口2
說明：可以看出LEXT非常適合一些非金屬試樣。
一、其他應用
1、 隱身材料的底表麵積測量
LEXT除了可以測量麵積外，還可以測量表麵積。在隱身材料中，實現隱身的一種途徑就是在材料表麵通過工藝處理實現很多小孔，小孔越多越深隱身效果越好。用LEXT可以測量出隱身材料的表麵積，表麵積越大說明小孔越多越深，從而可以定量的知道哪組工藝處理的隱身材料隱身效果更好。
2、 表麵噴塗粗糙度測量
通過測量不同工藝處理過的材料表麵粗糙度，進而間接的評判各種噴塗工藝效果。
3、 發動機葉片氣孔檢查
發動機葉片含有氣孔，取其橫截麵放入顯微鏡觀察，可以看到氣孔和表麵的汙物（汙物是不能避免的），在普通光學顯微鏡下，氣孔和汙物都是黑顏色的，無法分辨，由於氣孔是凹下的而汙物是凸出的，所以LEXT可以很容易的進行判斷，進而實現樣品孔隙率的計算。
切割片
