係列配合起偏,檢偏及DIC微分幹涉,可以很好的觀察屏的導電粒子,確認導電粒子個數是否符合要求。
首先,需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對於觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為最好,超過後會由於景深的問題導致觀察效果模糊,無法觀察到最好的效果。
準備好金相顯微鏡及必要的屏後就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出,然後把屏放置在載物台上,調整好焦距,通過載物台移動後找到觀察位置。現在插入起偏及檢偏器,通過目鏡觀察屏上位置,再調節檢偏器,直到光線最黑時停止調節檢偏器。最後插入DIC,調節DIC進行偏光直到看到導電粒子最清晰時就可以停止了。