係列配合起偏，檢偏及DIC微分幹涉，可以很好的觀察屏的導電粒子，確認導電粒子個數是否符合要求。
首先，需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對於觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為最好，超過後會由於景深的問題導致觀察效果模糊，無法觀察到最好的效果。
準備好金相顯微鏡及必要的屏後就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然後把屏放置在載物台上，調整好焦距，通過載物台移動後找到觀察位置。現在插入起偏及檢偏器，通過目鏡觀察屏上位置，再調節檢偏器，直到光線最黑時停止調節檢偏器。最後插入DIC,調節DIC進行偏光直到看到導電粒子最清晰時就可以停止了。
切割片
